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                    日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

                    型號:MCPD系列
                    光譜儀(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供豐富選配套件以及客制化光纖, 可依據安裝現場需求評估設計,是一套可靈活架設于各種環境下的最佳即時測量系統

                    產品描述

                    分光光譜儀種類

                    • MCPD-9800:高動態范圍分光

                    • MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀

                    • MCPD-7700:高感度分光

                    膜厚測量

                    半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜

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                    膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

                    半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。

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                    影印機感光鼓膜厚度量測

                    半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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                    LB膜測量

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                    蒸餾膜測量

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                    多點膜厚測量

                    • 半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

                    • 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜

                    • 塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)

                    • 樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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